Zetasizer Ultra 納米粒(li)度電位(wei)儀是(shi)用於測量顆粒(li)與分(fen)子(zi)大(da)小(xiao)、顆粒(li)電(dian)荷和顆粒(li)濃(nong)度的系(xi)統，在(zai)結合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有(you)特(te)性和優(you)點(dian)的基(ji)礎上(shang)，增(zeng)加了多(duo)角度動態(tai)光散(san)射(she)技術(shu)(MADLS®)，是(shi) Zetasizer Advance 系列(lie)中最智能和靈活的儀器。

這壹旗(qi)艦(jian)型儀器充(chong)分(fen)利(li)用了 ZS Xplorer 軟件的易用性(xing)、高(gao)分(fen)析(xi)速度和數(shu)據(ju)可靠(kao)性(xing)等優(you)勢，運用多(duo)角度動態(tai)光散(san)射(she)技術(shu) (MADLS®) ，提供與角度無關的(de)高(gao)分(fen)辨(bian)率粒(li)度測量，並(bing)且能夠測量顆粒(li)濃(nong)度，幫助您(nin)更(geng)深(shen)入地(di)了解(jie)樣品(pin)。

僅(jin)限(xian) Zetasizer Ultra 紅標版(ban)本(ben) (Red Label)

Zetasizer Ultra 納米粒(li)度電位(wei)儀的(de)特點和優(you)點(dian)

Zetasizer Ultra 融(rong)合了功能強大(da)的 DLS 與 ELS 系統(tong)，它采(cai)用了非侵入(ru)背(bei)散(san)射(she) (NIBS) 和多(duo)角動態(tai)光散(san)射(she) (MADLS) 技術(shu)來測量顆粒(li)與分(fen)子(zi)大(da)小(xiao)。 NIBS 的(de)多(duo)用性(xing)和靈敏度可適(shi)用廣(guang)泛的(de)濃(nong)度範圍(wei)，而 MADLS 則能(neng)讓(rang)您(nin)在(zai)這(zhe)些(xie)關鍵測量當中(zhong)更(geng)精(jing)細地(di)了解(jie)樣品(pin)粒度分(fen)布。

Zetasizer Ultra Red Label 的 MADLS 擴展(zhan)功能(neng)可直(zhi)接分(fen)析(xi)顆粒(li)濃(nong)度。 顆粒(li)濃(nong)度的測量適(shi)合於廣泛的(de)材料，無需或只(zhi)需很(hen)少(shao)稀釋(shi)，並(bing)且使用快(kuai)捷(jie)，這(zhe)壹(yi)切使(shi)其成(cheng)為(wei)壹種(zhong)理(li)想的(de)篩選技(ji)術(shu)。  這是(shi) Zetasizer Ultra 的壹(yi)項功能，甚至(zhi)可(ke)以運用於以前非常(chang)難(nan)測量的(de)病(bing)毒和類(lei)病(bing)毒顆粒(li) (VLP) 等樣品(pin)。

Zetasizer Ultra 的關鍵特(te)性(xing)和優(you)點(dian)包括：

用於高(gao)分(fen)辨(bian)率粒(li)度測量且與角度無關的(de)多(duo)角動態(tai)光散(san)射(she)法 (MADLS) 可(ke)以更(geng)深(shen)入地(di)展(zhan)現(xian)您(nin)的(de)樣品(pin)粒度分(fen)布

動態光散(san)射(she) (DLS)  用於測量從(cong)0.3 nm 到 15 µm 的顆粒(li)和分(fen)子(zi)的粒度及(ji)粒度分(fen)布 （使用低(di)容量可(ke)拋棄粒度樣品(pin)池和擴(kuo)展(zhan)粒度分(fen)析(xi)可以(yi)測試粒度大(da)於10 µm ；取(qu)決於樣品(pin)和樣品(pin)制備）

電泳光散(san)射(she) (ELS)  用於測量顆粒(li)和分(fen)子(zi)的Zeta電位(wei)，以顯(xian)示樣品(pin)穩定性和/或團聚(ju)傾向(xiang)性(xing)

非(fei)侵入(ru)背(bei)散(san)射(she) (NIBS) 技術(shu)顯著(zhu)擴大(da)了動態範圍，即使(shi)是(shi)處理(li)非常(chang)濃(nong)縮的樣品(pin)，也(ye)能實現(xian)高(gao)靈敏度

簡(jian)單(dan)的(de)每(mei)峰(feng)值濃(nong)度/滴(di)度測量（僅(jin)限(xian)紅標Red Label版(ban)本(ben)）

可拋棄型毛(mao)細管(guan)粒(li)度測量樣品(pin)池提供了無損、低(di)容量（ 3 L）分(fen)析(xi)，並(bing)且粒度上(shang)限(xian)範(fan)圍(wei)可(ke)達到 15 μm

具有恒流模(mo)式的M3-PALS可以(yi)在(zai)高(gao)導(dao)電介質中測量Zeta電(dian)位(wei)和電(dian)泳遷(qian)移(yi)率

以(yi)樣品(pin)為中心(xin)的ZS Xplorer軟件可以實(shi)現(xian)靈活的指導(dao)式使用，並(bing)可輕(qing)松(song)構(gou)建復(fu)雜的模(mo)型

“自(zi)適應(ying)相(xiang)關"算法能(neng)生(sheng)成(cheng)可(ke)靠且可重復的(de)數據(ju)，同時計算速度超(chao)過(guo)以(yi)往(wang)的兩(liang)倍(bei)，可(ke)在減少樣品(pin)制備的情況(kuang)下(xia)更(geng)快(kuai)速地(di)執行(xing)更(geng)多(duo)可重現(xian)的(de)粒度測量，實(shi)現(xian)更(geng)具(ju)代表性的樣品(pin)視圖(tu)

通過(guo)深(shen)度學習(xi)實現(xian)的(de)數據(ju)質量系(xi)統可(ke)以評估粒(li)度數據(ju)質量問題(ti)，並(bing)針(zhen)對(dui)如何(he)改進(jin)結果(guo)提供明確(que)的建議

使用靜(jing)態(tai)光散(san)射(she)（90°）測量分(fen)子(zi)量

軟件符(fu)合 21 CFR Part 11 法規(gui)

濾光片(pian)轉盤提供熒光濾光片(pian)以及(ji)垂直和水(shui)平(ping)偏振片(pian)，以實(shi)現(xian)分(fen)析(xi)靈活性

可(ke)選(xuan)的 MPT-3 自動(dong)滴(di)定(ding)儀可(ke)幫助研究(jiu) pH 值變(bian)化(hua)的(de)影響(xiang)

壹(yi)系(xi)列(lie)可拋棄和可(ke)重復使(shi)用的(de)樣品(pin)池可優化(hua)不(bu)同樣品(pin)體積和濃(nong)度的測量，其中包括新的低(di)容量可(ke)拋棄粒度測量池(chi)套件(jian)，由於它可以(yi)抑制對(dui)流，所以(yi)既(ji)能進(jin)行(xing)樣品(pin)量小(xiao)到 3 L 的粒度測量，也(ye)擴展(zhan)了DLS 測量的(de)粒度上(shang)限(xian)範(fan)圍(wei)。

產(chan)品(pin)參數